Značky
1. Autor | Název titulu | Vydavatelství | Rok | Cena | |
---|---|---|---|---|---|
Sachdev M. | Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits | Kluwer AP | 1998 | Na vyžádání | |
Schaub B. K. | Production Testing of RF and System-on-a-Chip Devices for Wireless Communications | Artech House | 2004 | Na vyžádání | |
Huertas, J. | Test and Design for Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits | Springer | 2004 | Na vyžádání | |
Hurley | A Concise Introduction to Logic | Thomson | 2006 | Na vyžádání | |
Celati L. | The Dark Side of Risk Management | Prentice Hall | 2004 | Na vyžádání | |
Cox N.L.T. | Clinical Skills | Oxford UP | 2005 | Na vyžádání | |
Taylor C. R. | Immunomicroscopy: A Diagnostic Tool for the Surgical Pathologist | Saunders | 2006 | Na vyžádání | |
Cutcher D. | Electronic Circuits for the Evil Genius | McGraw-Hill | 2005 | Na vyžádání | |
Eysenck | Cognitive Psychology: A Student´s Handbook | Psychology Press | 2005 | Na vyžádání |