Značky

Seřazení:
Zobrazit: 10 | 15 | 25 | 50 | 100 výsledků
  1. Autor Název titulu Vydavatelství Rok Cena
Sachdev M. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits Kluwer AP 1998 Na vyžádání
Schaub B. K. Production Testing of RF and System-on-a-Chip Devices for Wireless Communications Artech House 2004 Na vyžádání
Huertas, J. Test and Design for Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits Springer 2004 Na vyžádání
Hurley A Concise Introduction to Logic Thomson 2006 Na vyžádání
Celati L. The Dark Side of Risk Management Prentice Hall 2004 Na vyžádání
Cox N.L.T. Clinical Skills Oxford UP 2005 Na vyžádání
Taylor C. R. Immunomicroscopy: A Diagnostic Tool for the Surgical Pathologist Saunders 2006 Na vyžádání
Cutcher D. Electronic Circuits for the Evil Genius McGraw-Hill 2005 Na vyžádání
Eysenck Cognitive Psychology: A Student´s Handbook Psychology Press 2005 Na vyžádání
« 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 »