Sachdev M. - Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Sachdev M.

ISBN: 0792380835
Vydavatelství: Kluwer AP
Rok vydání: 1998
Dostupnost: Na objednávku

Původní cena: 0 Kč
Cena: Na vyžádání

Nárok na dopravu zdarma
Přidat do wishlistu
Zpět Tisknout Pošli poptávku
It is essential reading for all design and test professionals as well as researchers and students working in the field. `A strength of this book is its breadth.

Příbuzné oblasti
Viz také
« »
Přehled výstav, na kterých byl titul prezentován:
- ELECTRICAL ENGINEERING, INFORMATION TECHNOLOGY & COMPUTER SCIENCE ´05