Malé Centrum
Kotlářská 2 (PřF MU), 611 37 Brno
tel.: 549 492 571, 549 497 957
fax: 549 492 680
mcentrum@sci.muni.cz
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
ISBN:
0792380835
Autor:
Sachdev M.
Vydavatelství:
Kluwer AP
Rok vydání:
1998
Původní cena: 0 Kč
Cena:
Na vyžádání
©2024 - Malecentrum.cz, Všechna práva vyhrazena