Značky
| 1. Autor | Název titulu | Vydavatelství | Rok | Cena | |
|---|---|---|---|---|---|
| Khan W. | Standards for Engineering Design and Manufacturing | CRC Press | 2005 | Na vyžádání | |
| Bowen D. | X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing | Taylor & Francis | 2006 | Na vyžádání | |
| Whitford J. | New Old Economy: Networks, Institutions, and the Organizational Transformation of American Manufacturing | Oxford UP | 2005 | Na vyžádání | |
| Kirkup L. | An Introduction to Uncertainty in Measurement | Cambridge UP | 2006 | Na vyžádání | |
| Schulz M. | Nanoengineering of Structural, Functional and Smart Materials | CRC Press | 2005 | Na vyžádání | |
| Mackenzie D. | Analytical Characterization of Aluminium, Steel and Superalloys | Taylor & Francis | 2006 | Na vyžádání |