Bowen D. - X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Bowen D.

ISBN: 0849339286
Vydavatelství: Taylor & Francis
Rok vydání: 2006
Dostupnost: Na objednávku

Původní cena: 0 Kč
Cena: Na vyžádání

Nárok na dopravu zdarma
Přidat do wishlistu
Zpět Tisknout Pošli poptávku
While many books are available on the theory behind x-ray metrology (XRM), X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing is the first book to focus on the practical aspects of the technology and its application in device fabrication and ...

Viz také
« »