Snyder, R.L. - Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Snyder, R.L.

ISBN: 9780198501893
Vydavatelství: Oxford UP
Rok vydání: 2000
Dostupnost: Na objednávku

Původní cena: 0 Kč
Cena: Na vyžádání

Nárok na dopravu zdarma
Přidat do wishlistu
Zpět Tisknout Pošli poptávku

Příbuzné oblasti
Viz také
« »
Přehled výstav, na kterých byl titul prezentován:
- MATHEMATICS, PHYSICS & COMPUTER SCIENCE 2012
- Jarná výstava odborných kníh na FMFI UK 2012
- ELECTRICAL ENGINEERING & INFORMATION TECHNOLOGY 2011
- ELECTRICAL ENGINEERING & INFORMATION TECHNOLOGY 2009
- JARNÁ VÝSTAVA ODBORNÝCH KNÍH 2009
- ELECTRICAL ENGINEERING & INFORMATION TECHNOLOGY 2008
- MATHEMATICS, PHYSICS & COMPUTER SCIENCE 2008