Značky
1. Autor | Název titulu | Vydavatelství | Rok | Cena | |
---|---|---|---|---|---|
Richard Haight | Handbook Of Instrumentation And Techniques For Semiconductor Nanostructure Characterization (In 2 Volumes) | World Scientific | 2011 | 14 069 Kč | |
Joel M. Haight | Handbook of Loss Prevention Engineering | Wiley | 2013 | 9 574 Kč |